Dispositivo de medição de ponte de alta velocidade de capacidade Comparador de 11 bits
Categoria:
Testadores de componentes eletrónicos
Especificações
Armazenamento de dados:
1000 grupos
Dimensões:
200mm x 100mm x 50mm
Exibição:
LCD
Escala de frequência:
100Hz-100kHz
Interface:
USB
Precisão da medida:
±0.2%
Velocidade da medida:
2ms
Temperatura de funcionamento:
0℃-50℃
fonte de alimentação:
C.C. 9V
Nome do produto:
Medidor Handheld do RCL
Humidade relativa:
≤85%
Nível de sinal do teste:
0.1Vrms-1Vrms
Forma de onda do sinal do teste:
Ondas senoidais
Peso:
500g
Destacar:
Teste de capacitância de mão
,medidor de ponte de capacidade
,Dispositivo de medição da capacidade
Introdução
TH2638B Medidor de capacidade de alta velocidade com comparador de 11 binas
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Medição de alta precisão: Os testadores de capacitância oferecem alta precisão de medição, permitindo a determinação precisa dos valores de capacitância.Eles usam técnicas avançadas de medição e procedimentos de calibração para garantir resultados confiáveis e precisos.
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Ampla faixa de medição: Os testadores de capacitância têm uma ampla faixa de medição, acomodando um amplo espectro de capacitores.Eles podem medir valores de capacitância que vão desde picofarads (pF) para microfarads (μF) ou mesmo superior.
Características
■ Display LCD TFT de 4,3 polegadas
■ Interface de operação selecionável em chinês e inglês
■ Frequência máxima de ensaio: 1MHz
■ Velocidade máxima de ensaio: 2,3 ms/tempo
■ Precisão básica do ensaio: ± 0,07%
■ Fator de perda: ± 0.0005
■ Função de monitoramento do nível do sinal de ensaio V, I
■ Medição de baixa impedância, função de compensação do nível do sinal
■ Comparador integrado de 11 bicos
■ Armazenamento de ficheiros interno e armazenamento de ficheiros em disco U externo
■ Os dados de ensaio podem ser salvos directamente no disco U
■ A captura de ecrã pode ser guardada no disco U
■ Compatível com os comandos SCPI
■ Interfaces RS232C, USB CDC, LAN, HANDLER, GPIB
■ Interface do manipulador e interface do scanner
■ Função de inspecção de contacto
■ Sincronização da fonte de sinal
■ Função de deslocamento na frequência de ensaio de 1 MHz (±1, ±2%)
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