Analisador de parâmetros de semicondutores CPU dupla Tensão máxima 40V LCR 0,56ms 10 Bins
Analisador do parâmetro do semicondutor
,Analisador de ICR
,Analisador de semicondutores
TH511 Analisador CV semicondutor: CPU dupla, Max.Voltagem ±40V, LCR 0,56ms, 10 Bins
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Aplicação em Teste e Caracterização: A Fonte de Corrente de Bias de CC encontra amplo uso em testes e caracterização de componentes eletrônicos, como transistores, diodos,circuitos integrados (IC)Ele permite a avaliação do comportamento do dispositivo sob condições específicas de viés, facilitando a medição de parâmetros como ganho, linearidade, corrente de vazamento e tensão de limiar.Além disso,, é utilizado na calibração de equipamentos de medição, garantindo resultados precisos e rastreáveis.
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Características
10Ecrã sensível ao toque capacitivo de 0,1 polegada, resolução 1280*800, sistema Linux
Arquitetura de CPU dupla, a velocidade de teste mais rápida da função LCR é de 0,56ms
Três métodos de ensaio: ensaio pontual, varredura por lista e varredura gráfica (opcional)
Quatro parâmetros parasitários (Ciss, Coss, Crss, Rg) são medidos e exibidos no mesmo ecrã
Análise da curva CV, Análise da curva Ciss-Rg
Projeto integrado: LCR + VGS fonte de baixa tensão + VDS fonte de alta tensão + comutação de canal + PC
Teste padrão de 2 canais, que pode testar dois dispositivos ou dispositivos de chip duplo ao mesmo tempo, o canal pode ser expandido para 6, os parâmetros do canal são armazenados separadamente
Carregamento rápido, reduz o tempo de carregamento do condensador e permite testes rápidos
Ajuste automático de atraso
O sistema deve ser equipado com um sistema de transmissão automática de transmissão automática.
Sortes de 10 caixas
Aplicações
Componentes de semicondutores/componentes de potência
Teste de capacitância parasitária e análise das características C-V de diodos, triodos, MOSFETs, IGBTs, tiristores, circuitos integrados, chips optoeletrônicos, etc.
Materiais semicondutores
Análise das características do Wafer, C-V
Materiais de cristais líquidos
Análise da constante elástica
Elementos capacitivos
Ensaio e análise das características C-V do condensador, ensaio e análise do sensor capacitivo
Especificações
| Modelo | TH511 | TH512 | TH513 | ||||
| Canal | 2 (4/6 Ch opcional) | 2 | |||||
| Exibição | Exibição | 10Ecrã sensível ao toque capacitivo de 0,1 polegada | |||||
| Relação | 0.672916667 | ||||||
| Resolução | 1280*RGB*800 | ||||||
| Parâmetro de ensaio | Ciss, Coss, Crss, Rg. Quatro parâmetros selecionáveis arbitrariamente | ||||||
| Frequência dos ensaios | Distância | 1kHz-2MHz | |||||
| Precisão | 0.0001 | ||||||
| Resolução | 10mHz1.00000kHz-9.99999kHz | ||||||
| 100mHz10,0000kHz-99,9999kHz | |||||||
| 1Hz100.000kHz-999,999kHz | |||||||
| 10Hz1.00000MHz-2.00000MHz | |||||||
| Nível de ensaio | Faixa de tensão | 5mVrms-2Vrms | |||||
| Precisão | ± (10%*Valor de fixação+2mV) | ||||||
| Resolução | 1mVrms5mVrms-1Vrms | ||||||
| 10mVrms1Vrms-2Vrms | |||||||
| Vgs | Distância | 0 - ± 40 V | |||||
| Precisão | 1%* Tensão de regulação+8mV | ||||||
| Resolução | 1mV0V - ±10V | ||||||
| 10mV10V - ±40V | |||||||
| Vds | Distância | 0 - 200 V | 0 - 1500 V | 0 - 3000V | |||
| Precisão | 1%* Tensão de regulação + 100 mV | ||||||
| Impedância de saída | 100, ± 2%@1 kHz | ||||||
| Computação | Desvio absoluto do valor nominal, desvio percentual do valor nominal | ||||||
| Função de calibração | Abrir, cortar, carregar | ||||||
| Medida média | 1-255 vezes | ||||||
| Tempo de conversão AD (ms/tempo) | Rápido +: 0.56ms (> 5kHz), Rápido: 3.3ms, Médio: 90ms, Lento: 220ms. | ||||||
| Precisão básica | 0.001 | ||||||